第26届中国国际光电博览会（CIOE）于9月13 日在深圳国际会展中心圆满落幕，这场为期三天的行业盛会为全球光电领域搭建了高效的技术交流平台。
此次展会，启扬光学展出了OptoPrism系列棱镜耦合仪、微观缺陷检测系统、可变磁场单晶倍频测试系统、Z-Scan 三阶非线性测试系统等核心技术产品，充分展现了硬核技术实力。
OptoPrism系列 棱镜耦合仪
OptoPrism Coupler
利用棱镜耦合原理测量晶体、薄膜等材料的双折射率、膜厚度、热光系数、波导传输损耗等参数，折射率精度高达±0.0005，多种激光光源可选（标配405~1650 nm，可选配375 nm、266 nm），具备一体化、易操作等优势。
微观缺陷检测系统
Micro Defect Inspection System
采用非接触式检测方案，实现高精度测量，可精准识别微米至亚微米级缺陷，并对各类关键缺陷实现自动检测与智能分类，涵盖划痕、裂纹、微气泡、镀膜不良、表面污染等。
可变磁场单晶倍频测试系统
Variable Field Monocrystal
Frequency Doubling Test System
在可变磁场下，测试单晶的二阶非线性倍频效应，定量表征材料在特定晶向下的二阶非线性系数。
Z-Scan 三阶非线性测试系统
Z-Scan Third-Order Nonlinearity Test System
表征非线性光学材料的三阶非线性吸收系数、三阶非线性折射过程、三阶非线性极化率的虚部和实部。
展会期间，启扬光学团队向参展观众介绍公司概况及产品技术细节，与行业同人相互交流技术咨询，共谋行业发展。
依托领先的技术优势，启扬光学持续突破边界，致力于将光学技术拓展至更广泛的应用场景。未来，启扬光学将以更高品质的光学产品与更优质的服务市场，为推动行业高质量发展贡献力量。
End
启扬光学
光学晶体元件 I 光学器件 I 精密光学设备
